《表1 不同配比的HF和HNO3混合酸处理微孔阵列硅片效果对比》
通过浓度稀释解决该问题,表1列出了不同稀释程度的结果对比。当配比为HF︰HNO3︰H2O=1︰3︰3时,可以兼顾腐蚀效果和时间,颗粒基本去除干净,腐蚀坑也很少。腐蚀液优化前后得到基片对比如图4所示。
图表编号 | XD00184539700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.11.20 |
作者 | 杜婷、李兴辉、韩攀阳、陈海军、蔡军、冯进军 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家级重点实验室 |
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