《表1 不同界面修饰方法制备PSCs的光伏参数》
Zhang等[44]使用原子层沉积法直接在FTO表面沉积Al2O3层,用Al2O3层取代致密的Ti O2层。优化的Al2O3厚度可有效地阻止PVK/FTO界面处的电子复合,并通过隧道效应充分传输电子(图7),从而改善器件性能。Koushik等[45]使用原子层沉积技术直接在PVK上沉积Al2O3层。超薄Al2O3膜有效保护了PVK层,钝化了PVK表面由H2O和O2诱导的缺陷,同时Al2O3的疏水性阻碍了H2O的渗透。器件表现出出色的性能,实现了18%的稳态效率。此外,在没有封装的条件下,器件在室温和40%~70%RH空气环境中放置70 d后,依然可以保持初始效率的60%~70%,表现出良好的稳定性。不同界面修饰方法制备PSCs的光伏参数见表1。
图表编号 | XD00161601300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.24 |
作者 | 孟凡宁、刘彩云、高立国、马廷丽 |
绘制单位 | 大连理工大学化工学院精细化工国家重点实验室、大连理工大学化工学院精细化工国家重点实验室、大连理工大学化工学院精细化工国家重点实验室、中国计量大学材料科学与工程学院、九州工业大学生命体工学科研究生院 |
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