《表1 N2吸附比表面积和介孔分析》
Zhou等[43-44]的研究表明可以通过在碳材料上形成表面官能团来提高电极材料赝电容现象。因此,Liu等[45]在(NH4)2S2O8的硫酸溶液中对AC进行表面官能化,使其具有了—OH,—C= O,—C—O,—COOH等官能团。之后将所得材料(f-AC)在氩气环境下进行退火处理得到f-AC 300C(300C指退火温度为300℃),并将以AC、f-AC和f-AC 300C为活性物质制备的电极在1.0(1.5)~3.5 V(vs.Li)的电压范围内进行恒流充放电。结果发现虽然f-AC比表面积相比于AC减少了3/4(表1,主要由酸蚀刻引起),但实际比电容却增加了3倍(图3)。并且经由FTIR、XPS和Raman研究分析可知,f-AC中含氧基团(如—C—O,—C= O等)的含量显著增加,f-AC 300C中含氧基团的含量降低,而这些样品中含氧基团含量的变化与相应的AC的电容性能变化完全吻合。因此,可以认为Li+在1.5~3.5 V的工作区间中,与含氧基团发生了可逆反应,从而引入赝电容效应,将面积比电容从3.6μF·cm-2(AC)提高到74.8μF·cm-2(f-AC)。
图表编号 | XD00159100000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.01 |
作者 | 胡涛、张熊、安亚斌、李晨、马衍伟 |
绘制单位 | 中国科学院电工研究所、中国科学院大学、中国科学院电工研究所、中国科学院大学、中国科学院电工研究所、中国科学院电工研究所、中国科学院电工研究所、中国科学院大学 |
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