《表1 测试时间对比：基于Ultraflex的芯片上升时间测量的研究》

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《基于Ultraflex的芯片上升时间测量的研究》

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以单颗芯片的被测模块进行试验，测试了多个通道，表1给出了二分搜索、线性搜索和新方法的测试时间对比，可以看出新方法的测试时间明显减少。由于在量产中，单颗芯片测试时间与同时测试的芯片数量在芯片成本中起着主要作用[3]，所以新方法对测试时间的缩减有着很好的借鉴作用。