《表1 不同扫描速度下所得衍射图谱的分析结果》
按照1.3.1的测试方法,采用相同测试条件,即:电压36 kV,电流30 mA,发散狭缝(DS)0.5°,防散射狭缝(SS)0.5°,接收狭缝(RS)4mm。分别采用1、2、8(°)/min的扫描速度测试1#试样和2#试样,结果如图1和和表1所示。在低扫描速度下所得衍射谱线较平滑,衍射峰强度较高,α晶(110)、(040)、(130)晶面和β晶(300)晶面衍射峰强度计数值也随着扫描速度的提高而逐渐减少。同时,扫描速度越快,同一晶面衍射角略有向大角度偏移的趋势,扫描速度的影响在张杰[16]的研究中有类似的报道。其原因是:在相同测试功率和狭缝参数下,扫描速度越快,从衍射仪激发出的X射线累积照射到试样上的数量减少,探测器接收到的信号也减少,使得测试出的衍射谱图衍射峰强度下降,甚至晶面难以出峰,与非晶态混成一体。扫描速度为8(°)/min的试样衍射峰最弱,其中α晶型的(130)晶面衍射峰减弱最为明显。此外,由于扫描速度的变化对于α晶(110)、(040)、(130)和β晶(300)晶面的影响趋势一致,故对β晶含量的测试结果影响不大。
图表编号 | XD00154366600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.20 |
作者 | 赵波、肖潇 |
绘制单位 | 福建省产品质量检验研究院、国家塑料制品质量监督检验中心、福建省产品质量检验研究院、国家塑料制品质量监督检验中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |