《表3 图4中正常膜层与破坏膜层的化学成分》

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《镁合金微弧氧化持续电弧对膜层的破坏机制》

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由它们的化学成分（表3）可以看出，正常膜层中A区域的O、F元素含量明显高于B区域，但前者的Mg、Al元素含量低于B区域，而Na、K、Si元素含量没有明显的变化。而破坏膜层中C区域的O、Na、K元素的含量明显高于D区域，而F、Mg元素含量低于D区域。相比于正常膜层A、B区域，破坏膜层C、D两区域中F、Na、K、Si元素含量均有很大提高。这说明持续电弧的破坏不仅发生在膜层表面，也深入到了膜层的内部，且可作如下推论：试样发生持续电弧破坏的区域，不断地电解电解液中的水，进而使大量电解质（Na2SiO4，KF）析出，沉积在破坏膜层中。