《表2 不同电解液体系中制备的膜层的极化曲线拟合结果》
不同电解液体系中制备的陶瓷膜层在3.5%NaCl溶液中的极化曲线见图3。表2是通过CVIEW软件拟合得到的自腐蚀电位(Ecorr)和自腐蚀电流密度(Jcorr)。从表2与图3中可看出,铸铝试样经微弧氧化后试样的耐腐蚀性较未经氧化的试样好。比较不同电解液体系中制备的陶瓷膜层,磷酸盐体系Ecorr为-0.851 V,硼酸盐体系Ecorr为-0.739 V,硅酸盐体系Ecorr为-0.699V,逐渐正移。磷酸盐体系Jcorr为5.719×10-7A/cm2,硼酸盐体系Jcorr为2.746×10-7A/cm2,硅酸盐体系Jcorr为2.212×10-7A/cm2,腐蚀电流密度逐渐减小,与未经微弧氧化处理时的5.862×10-6A/cm2相比,腐蚀电流密度下降了1个数量级。这表明在一定的腐蚀环境中,硅酸盐膜层相对于硼酸盐膜层和磷酸盐膜层都具有更好的耐腐蚀能力。
图表编号 | XD00146789000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.15 |
作者 | 张宇、段翔宇、郑伟青、宋仁国 |
绘制单位 | 浙江工业职业技术学院机械工程学院、浙江工业大学特种装备制造与先进加工技术教育部、浙江重点实验室、浙江工业职业技术学院机械工程学院、浙江工业职业技术学院机械工程学院、常州大学材料科学与工程学院 |
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