《表1 TSV孔深度与铜层厚度及能谱的对应关系》
图2是制备的直径20μm、深径比为10∶1的TSV在溅射铜种子层后的扫描电镜截面图片。表1是TSV孔深度与铜层厚度及能谱的对应关系。从表1可知,铜层厚度随着孔深的增加逐渐变薄,约在TSV孔1/2深度附近达到最薄,之后随着孔深的增加逐渐变厚,其中孔壁最薄处厚38 nm,孔底厚100 nm。对应的EDS能谱中铜含量的变化规律与厚度的变化规律相同,铜含量的最低点同样出现在孔深的中部。
图表编号 | XD00131032300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 牛通、李浩、崔凯、王从香 |
绘制单位 | 南京电子技术研究所、南京电子技术研究所、南京电子技术研究所、南京电子技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |