《表1 实验条件设置:基于SiO_2掩膜层的硅基微半球谐振子模具加工工艺》
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《基于SiO_2掩膜层的硅基微半球谐振子模具加工工艺》
HNA溶液对单晶硅的腐蚀形貌除了受腐蚀窗半径的影响外,还高度依赖于单晶硅晶向、溶液配比、温度、搅拌方式等条件。因此为了可以准确探究HNA溶液对单晶硅的腐蚀规律以制作完美的微半球模具,应该对相关实验条件进行适当的设置。根据相关研究的结果[8-8,16-17],以及出于实验结果普适性的考虑,具体实验条件设置如表1所示。
图表编号 | XD00129500700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.15 |
作者 | 郑显泽、李严军、王月、唐彬、熊壮 |
绘制单位 | 中国工程物理研究院电子工程研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所、中国工程物理研究院电子工程研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |