《表1 rGO粉体材料C/O和O含量的XPS比对测量结果和稳健统计量》

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《石墨烯粉体材料的标准化测试方法研究》

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用Z比分数法对多家实验室的比对测量结果进行评价，以中位值和标准四分位间距（IQR）作为数据集中和分散量度的稳健统计法对13家参加VAMAS国际比对实验室返回的数据进行统计处理，测得rGO粉体材料的C/O和O含量结果（见表1）。由表1数据可见，L11实验室的C/O和O含量的2<|Z|≤3，说明其比对结果有问题，分析原因为该实验室测量结果中仅包含3个平行实验数据，数据量少且分布宽从而产生了较大的测量标准差。其他12家比对实验室的测量结果的|Z|≤2，比对结果均为满意，说明VAMAS国际比对rGO测试样品均匀性、稳定性良好，测量方法广泛适用，测量结果准确可靠。基于VAMAS国际比对研究结果，我们提出将XPS分析石墨烯粉体材料中的碳氧比和氧含量技术方法发展为标准方法，现已在国际电工委员会纳电子产品与系统技术委员会（IEC/TC 113）作为国际标准新项目立项，项目编号和名称为“IEC/TS 62607-6-21 NANAMANUFACTURING-KEY CONTROL CHARACTERISTICS-Part 6-21:Graphene Powder-Elemental composition，C/O ratio:XPS”。