《表3 本研究中组件衰减原因分析》
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《上海地区各种光伏组件户外发电性能比较和衰减原因分析》
注:“未知”表示衰减原因待延长监测时间才知晓;“×”表示衰减原因目前未监测到;“√”表示衰减原因已监测到
在对以上8种组件进行的户外监测中,封装玻璃的破坏、旁路二极管的失效、背板开裂和分层,以及焊带或焊接点的脱落等衰减原因并未监测到;但CdTe组件因安装压块不牢固,在上海台风期间,组件封装玻璃发生了明显破裂,认为这与组件的安装压块选择有关。除此之外,作为半导体器件的太阳电池自身的衰减是光伏组件衰减的主要原因,其中,HIT单面组件中晶体硅和非晶硅界面的衰减是致使该组件衰减的主要原因,在前文已进行过详细分析;其他组件的衰减均是由于光照导致的电池自身衰减,这可能是导致光伏组件衰减的重要原因。
图表编号 | XD00124834300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.28 |
作者 | 高兵、相海涛、邵亚辉、余友林、刘正新 |
绘制单位 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |