《表3 与不同方法的目标检测结果的比较》
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《基于邻域向量内积局部对比度图像增强的光学元件损伤检测》
使用4种算法检测损伤目标的耗时如表3所示,一维最大熵耗时最少,但是检测准确率最低;IPMCM算法耗时最大,无法检测出局部亮区的损伤目标;本文方法耗时比LCM多,是因为需要计算损伤图像每个像素的邻域向量内积局部对比度值,但本文方法能够使用自适应阈值公式对损伤目标进行分离,目标分离效率高。
图表编号 | XD00117515300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 王拯洲、段亚轩、王力、谭萌、李红光、魏际同 |
绘制单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院西安光学精密机械研究所 |
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