《表1 MgO和MgF2掺杂的Al2O3陶瓷的微波介电性能(1550℃下烧结)》
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《MgO/MgF_2掺杂对Al_2O_3陶瓷烧结、显微结构及微波介电性能的影响》
注:f为频率,εr为介电常数,tanδ为介电损耗,Q为谐振。
可能由于式(1)和式(2)中两种空位缺陷不同,导致二者介电损耗出现很大的差别,掺杂MgF2的样品介电损耗更高。
图表编号 | XD00117398600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 林聪毅、袁璐、李蔚 |
绘制单位 | 华东理工大学材料科学与工程学院、上海三思电子工程有限公司、华东理工大学材料科学与工程学院、华东理工大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |