《表1 最邻近法原理:不同DEM尺度下推方法的精度差异性分析》

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《不同DEM尺度下推方法的精度差异性分析》


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最邻近法是直接将与某个像元位置最邻近的那个像元的值作为此像元的新值,选取与指定采样点最邻近点的高程值作为尺度下推结果[7]。如果对Z(i-1,j-1)和Z(i+1,j+1)进行插值,设待插值点的高程为Z(i,j),那么DEM作为最邻近法可以选择的高程值有8个,即Z(i,j)∈{Z(i-1,j-1),Z(i-1,j),Z(i-1,j+1),Z(i,j-1),Z(i,j+1),Z(i+1,j-1),Z(i+1,j),Z(i+1,j+1)},由于Z(i,j)有8个选择(见表1),故容易在插值后出现“局部平顶”的不利现象。