《表1 当M=1时有无透镜时的光响应度对比》
图8为RIE功率为150 W、ICP功率为400 W、Cl2的体积流量为10 cm3/min和BCl3的体积流量为20 cm3/min时刻蚀的InP微透镜电镜照片,透镜直径100μm,拱高为11.8μm,从图中可以看出:刻蚀面光滑,无聚合物残留,微透镜底部呈规则圆形。使用了光学共聚焦显微镜对表面粗糙度进行了分析,得到的平均粗糙度为11 nm。图9为背入射10 Gbit/s雪崩光电探测器芯片贴装于载体上的照片,表1为当倍增为1(M=1)时,有透镜与无透镜光响应度对比,定义位置0为光响度应最大处,通过光纤的移动对比光响应度的变化,由表1可知,通过微透镜的使用,可大大提高芯片与光纤的耦合效率。
图表编号 | XD001108300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.15 |
作者 | 李庆伟、尹顺政、宋红伟、张世祖、蒋红旺 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |