《表1 不同掺杂方式获得样品的晶格畸变值》

《表1 不同掺杂方式获得样品的晶格畸变值》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《掺杂方式对FeCo/SiO_2复合薄膜择优取向的影响》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

图5为不同Al掺杂含量的纳米Fe Co/Si O2复合薄膜SEM照片。可以看出,用溶胶-凝胶旋涂工艺获得的薄膜厚度均匀,表面较平整,颗粒分布较均匀,没有出现裂缝和剥落现象。对样品厚度进行SEM表征,用Nano Measurer 1.2软件精确测量可以得出薄膜厚度约为110 nm。