《表1 不同掺杂方式获得样品的晶格畸变值》
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《掺杂方式对FeCo/SiO_2复合薄膜择优取向的影响》
图5为不同Al掺杂含量的纳米Fe Co/Si O2复合薄膜SEM照片。可以看出,用溶胶-凝胶旋涂工艺获得的薄膜厚度均匀,表面较平整,颗粒分布较均匀,没有出现裂缝和剥落现象。对样品厚度进行SEM表征,用Nano Measurer 1.2软件精确测量可以得出薄膜厚度约为110 nm。
图表编号 | XD001068700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.05.25 |
作者 | 马跃、石丽佳、徐仕翀、王丽、李海波、刘宇、刘梅 |
绘制单位 | 吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学物理国家级实验教学示范中心、吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学物理国家级实验教学示范中心、吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学物理国家级实验教学示范中心、北京中科东亚纳米材料科技有限公司、吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室、吉林师范大学物理国家级实验教学示范中心 |
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