《表3 短中波混成芯片总剂量试验前后性能表》

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《多谱段集成长线列拼接TDI红外探测器技术》

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寿命试验前后及高低温冲击试验过程中对受试产品进行性能测试，寿命试验前后性能测试结果见表3～5，由于高低温冲击试验每20次需要进行一次性能测试，本文只对试验前、第100次、第200次和第300次试验结果进行比对。