《表4 长波混成芯片总剂量试验前后性能表》

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《多谱段集成长线列拼接TDI红外探测器技术》

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从表5试验测试数据比对可以看出，高低温冲击试验过程中，非均匀性增加最大值为7.4%，盲元率增加最大值为0.2%，满足探测器高低温冲击试验合格判据。根据以上分析可以看出，红外探测器组件在寿命试验前后性能稳定，能够满足相机在轨8年寿命。