《表2 不同粒度下各组分的荧光强度(kcps)》

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《粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中有毒有害元素》

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对于粉末直接压制圆片，颗粒效应是影响分析结果准确性的重要因素。有相关研究报道[16-19]，当样品粒度小到一定程度时，荧光强度开始趋于稳定。本课题对0.100 mm（140目）、0.089 mm（170目）、0.074 mm（200目）、0.062 mm（230目）、0.053 mm（270目）等5个不同的粒度与测量荧光强度的关系进行研究。研究发现，当样品粒度0.053～0.074 mm时，各组分的荧光强度以趋于稳定，见表2。