《表1 IPD滤波器性能对比》
表1列举了多款IPD滤波器的相关技术指标,从中可以看出,基于IPD技术的新型S波段带通滤波器,其带外抑制较大,带内插损达到了-3.5 dB[15];具有两个传输零点的紧凑型硅集成无源带通滤波器,其带内插损-2.3 dB,带外抑制-20 dB以内[16]。本文采用薄膜工艺和半加成法设计的IPD滤波器,带内插损小(-1.87 [email protected] GHz),带外抑制小于-30 dB,整体性能有所提升;器件尺寸1.1 mm*0.68 mm,相比同类IPD滤波器,尺寸较小,能满足当前小型化的应用需求;叠层结构简单,填充介质为二氧化硅以及PI[17],且相对于全片电镀铜,半加成法使得铜耗减少,加工成本低。本文为提高电感Q值,提高电容密度,制造高性能的IPD器件提供了一种可实施的制备方案。
图表编号 | XD00104396000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 彭刚彬、周云燕、曹立强 |
绘制单位 | 中国科学院微电子研究所、中国科学院大学、中国科学院微电子研究所、中国科学院大学、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、中国科学院微电子研究所、中国科学院大学、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
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