《表2 图6背散射SEM中各点元素的原子百分比》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《YSZ–Ti_3SiC_2热障涂层及其高温自愈合机制》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

%

根据图6所示涂层截面的背散射SEM图可以推断该氧化层为双层结构。此外，在氧化层截面处由内向外分别对不同位置（A～E点）进行了元素分析（表2）。结果显示氧化层外层主要为TiO2，而内层则为TiO2和SiO2混合氧化层（SiO2为图6中灰色区域）。产生该现象的原因是由于在氧化过程中TiO2的生长速率大于SiO2，同时由Ti–Si–O的三元相图可知TiO2相在Ti3SiC2体系中更容易形成[15]。这样的双层结构也在一定程度上影响了XRD中对SiO2的测试，是XRD图谱中无法测出SiO2的另一个原因。