《X射线荧光探矿技术》求取 ⇩

目 录1

绪言1

第一章X射线荧光的物理基础1

1.1放射性概论1

1.2 X射线激发源4

1.3原子的电子壳层结构10

1.4 X射线荧光产生及其性质13

1.5 X射线与物质的相互作用17

1.6荧光产额和X射线总产额36

1.7激发源，样品和探测器的相对几何关系39

1.8轻便式X射线荧光仪的一般结构和电路要求41

第二章探测器44

2.1闪烁探测器44

2.2正比计数器54

2.3半导体探测器61

2.4探测器的性能比较64

3.1前置电路66

第三章射线电子学电路66

3.2线性脉冲放大器69

3.3单道脉冲幅度分析器75

3.4多道脉冲幅度分析器79

3.5脉冲计数器82

3.6定时电路及控制电路87

3.7计数率计电路90

3.8电源电路92

第四章滤片105

4.1原理和滤片物质的选择105

4.2滤片厚度的理论计算106

4.3成形工艺108

4.4滤片平衡性的测定110

4.5调整滤片平衡性的方法111

4.6对滤片的评价113

第五章室内分析方法117

5.1室内分析方法的基本内容和基本公式117

5.2基体效应119

5.3样品的制备120

5.4样品的测量方法122

5.5测量条件的控制128

5.6基体效应的校正方法131

5.7测量结果的评价140

第六章 X射线荧光现场测量144

6.1 X射线荧光现场测量的工作原理144

6.2 X射线荧光现场测量的工作方法146

6.3 X射线荧光现场测量的地质效果151

6.4山地工程表面岩矿露头的X射线荧光现场测量153

6.5钻孔岩心X射线荧光现场测量164

6.6普查找矿中X射线荧光方法的应用166

6.7半导体探测器X射线荧光谱仪的应用172

6.8 X射线荧光技术在海洋地质和宇宙地质中的应用175

6.9 X射线荧光技术在选矿和石油工业等领域的应用176

6.10 X射线荧光现场测量的影响因素及其消除方法184

7.2基本原理191

第七章X射线荧光测井191

7.1概述191

7.3 X射线荧光测井仪器装备192

7.4 X射线荧光测井技术199

7.5 X射线荧光测井方法技术200

7.6应用实例214

附录一原子能级图和特征X射线223

附录二 元素的K吸收限和主要的K系特征X射线224

附录三元素的L吸收限和主要的L系特征X射线226

附录四光子的质量吸收系数228

附录五 低能范围的光子质量吸收系数235

附录六元素对特征X射线的质量吸收系数237

附录七 K吸收限和L吸收限的突变比286

附录八硫、铁、铜、钼、锡和铅的X射线作用截面287

附录九空气、P10气和聚酯膜、聚乙烯醇缩甲醛膜对光子的质量吸收系数294

附录十 φ200铁框分样筛的规格295

附录十一ex及e-x值表295