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目录1

第一章简单原理1

1.1 X射线波长与原子序数的关系1

1.2荧光X射线分光计的布置1

1.3各章大意4

参考文献4

第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理5

2.1什么是X射线5

2.2特征X射线的发生6

2.3连续X射线光谱的发生8

2.4 X射线的衍射9

2.5 X射线的吸收和散射11

参考文献13

第三章 X射线的激发15

3.1 X射线管一次辐射的光谱分布15

3.2试样元素特征谱线强度与一次辐射光谱的关系18

3.3 X射线管和靶材的选择20

3.4其它激发方法21

3.5影响试样元素观测强度的其它因素22

3.6关于X射线激发提要24

参考文献24

第四章波长色散分光计和晶体性质26

4.1平面晶体分光计26

4.2弯曲晶体分光计28

4.3其它色散装置30

4.4晶体的性质34

4.5分辨率计算的举例38

4.6分光计的总效率40

参考文献40

第五章探测器和电路42

5.1 正比计数器42

5.2脉冲幅度分布44

5.3能量鉴别和多道分析器46

5.4脉冲幅度分布随计数率的漂移48

5.5逸出峰49

5.6闪烁计数器50

5.7固体计数器51

5.8各种探测器的比较52

第六章能量色散56

6.1波长色散和能量色散的比较56

6.2数学分解58

6.3能量色散法的改进61

6.4用于能量色散的放射源62

6.5近邻元素分析的举例63

参考文献67

第七章分析的精密度和准确度68

7.1校准曲线68

7.2基体效应69

7.3液体或粉末的校准72

7.4固体试样的校准75

7.5分析的精密度和准确度76

7.6定时计数法和定数计时法的比较79

参考文献80

第八章定量分析的数学方法82

8.1经验系数法82

8.2 Qij系数的确定83

8.3经验系数法在分析上的应用84

8.4经验系数法在铁-镍基合金中应用的举例85

8.5基本参数法86

8.6计算机程序和计算方程87

参考文献90

8.7基本参数法在铁-镍基合金分析中应用的举例90

8.8数学计算法的展望90

第九章 X射线光谱分析的应用和试样制备91

9.1固体试样91

9.2粉末试样93

9.3液体试样94

9.4固溶体（硼砂熔融）95

9.5薄膜和涂层95

9.6低含量97

9.7轻元素98

9.8非均匀试样和极限量试样99

9.9连续分析和过程控制100

9.10原子价对X射线发射线的影响101

9.11间接分析105

参考文献106

第十章 电子探针微区分析107

10.1仪器装备107

10.2硬物质试样的制备108

10.3软物质试样的制备112

10.4粉散物；萃取复制品112

10.5定量分析、标准及计算114

10.6电子探针微区分析的应用115

参考文献116

11.1.1测量仪器118

第十一章附录118

附录1 X射线管一次辐射的光谱分布118

11.1.2光谱强度表119

11.1.3光谱强度表的使用119

参考文献125

附录2 几种常用的分光晶体125

附录3 荧光产额平均值126

参考文献127

附录4 分析仪部件和分析条件的选择及定量分析的步骤127

11.4.1试样制备127

11.4.2 设备128

11.4.3测量128