《实用X射线光谱分析》

第-章X射线的物理学1

1.1X射线的起源1

1.1.1概况1

1.1.2连续辐射2

1.1.3特征辐射3

1.1.4非图表线9

1.1.5俄歇效应10

1.1.6荧光产额10

1.2X射线的产生11

1.2.1概况11

1.2.2 X射线管12

1.2.3轻元素的激发14

1.3X射线的性质15

1.3.1吸收15

1.3.2 X射线的散射18

1.3.3复合物质的吸收19

1.3.4 X射线的衍射20

1.3.5衍射条件21

1.4样品荧光辐射的激发23

1.4.1概述23

1.4.2单色辐射的激发23

1.4.3连续光谱的激发26

1.4.4强度公式的意义27

第二章色散31

2.1概况31

2.2光谱仪的几何设计31

2.3光谱仪的有效角度范围35

2.4色散本领37

2.5谱线轮廓的加宽37

2.6光谱仪的准直度要求38

2.7反射效率40

2.8用滤光片提高分辨能力41

2.8.1减弱次级辐射42

2.8.2减弱初级辐射42

2.9在晶体色散应用中常遇到的一些问题43

2.9.1晶体的一般要求43

2.9.2温度效应44

2.9.3晶体荧光44

2.9.4异常反射46

2.10软X射线的色散49

2.10.1有机金属化合物50

2.10.2伪晶体51

2.10.3衍射光栅52

2.11长波色散方法的比较52

第三章探测55

3.1概况55

3.2充气探测器56

3.2.1死时间61

3.2.2盖革-弥勒探测器63

3.2.3正比探测器63

3.2.4流气正比探测器68

3.3闪烁探测器71

3.3.1燐光体71

3.3.2光电倍增管72

3.3.3闪烁探测器的特性75

3.4各种探测器的比较76

第四章脉冲高度选择80

4.1脉冲高度选择的原理80

4.2自动脉冲高度选择82

4.2.1改变脉冲振幅82

4.2.2改变基线和道宽值84

4.3脉冲高度选择的应用84

4.4脉冲高度选择在理论上的应用85

4.4.1流气探测器86

4.4.2闪烁探测器87

4.5在脉冲高度选择中出现的实际问题89

4.6脉冲振幅的漂移90

4.6.1计数管电压的影响90

4.6.2计数率效应91

4.6.3气体密度效应94

4.6.4电离气体与猝灭气体原子数比的效应95

4.7脉冲振幅的畸变96

4.7.1由给出主峰相同的波长而引起的附加峰98

4.7.2非被测波长引起的附加峰102

第五章计数统计学106

5.1导言106

5.2统计术语的定义108

5.3 X射线随机分布111

5.4定时或定数的选择114

5.5计数误差的限度116

5.6净强度的计数误差117

5.7最佳计数时间的选择122

5.8最佳分析条件的选择123

5.9低浓度下最佳条件的选择124

5.10使用比例法的误差124

5.11比例计数法和绝对计数法的选择125

5.12计数误差与稳定度127

5.13计数误差作为总计数的函数127

第六章基体效应129

6.1 X射线分析的误差129

6.2元素间相互影响131

6.2.1吸收131

6.2.2增强效应139

6.3物理效应140

6.3.1粒度及表面效应140

6.3.2化学状态效应143

第七章定量分析151

7.1概况151

7.2标样法154

7.2.1外标法154

7.2.2内标法（不同元素）155

7.2.3内标法（相同元素）158

7.2.4X光管散射线的应用159

7.3稀释法161

7.4薄试样法163

7.5数学校正164

7.5.1影响系数法的原理165

7.5.2吸收校正法169

第八章样品制备174

8.1概况174

8.2仅需简单处理的样品175

8.2.1金属固体块样（a）175

8.2.2非金属固体块样（b）179

8.2.3粉末样品180

8.2.4液体样品181

8.3需要一定的预先处理的样品184

8.3.1固体块样184

8.3.2粉末样品186

8.4需要特殊处理的样品189

8.4.1非常少的样品189

8.4.2含量很低的样品194

8.4.3放射性样品195

第九章痕量分析198

9.1概况198

9.2低含量的分析198

9.3理论考虑199

9.4统计定义200

9.5品质因数（或品质函数）201

9.6发生器的稳定度201

9.7长期漂移效应202

9.8检出限随原子序数变化203

9.9激发条件的选择205

9.9.1X射线管的选择205

9.9.2管电流和管电压的选择205

9.10背景影响206

9.11偏振法去除背景208

9.12滤光片的使用209

9.13基体影响210

9.14有限量物质的分析212

9.15理论考虑213

9.16试样量的最低要求214

9.17少量样品的处理214

附录2216

（a）X射线荧光分析的条件选择216

（b）特征谱线强度随X射线管电压的变化217

附录4最佳定时法及定数法的公式推导。218

索引220

X射线的基本知识和对X射线光谱分析有重要贡献的科学家简介223

思考题239

复习题248