《X射线荧光分析译文集 数学校正法及新技术的应用》
作者 | 地质部书刊编辑室编辑 编者 |
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出版 | 北京:地质出版社 |
参考页数 | 231 |
出版时间 | 1981(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 15038·新508 — 求助条款 |
PDF编号 | 89268458(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

X射线光谱测定中数学校正法的述评1
实用X射线光谱学中的经验基体校正9
基本参数法荧光X射线光谱定量分析20
二次源、能量色散X射线光谱仪及其在定量分析化学中的应用37
混合、稀释、加入法的评述及共理论上可能的扩展Ⅰ44
岩石X射线荧光分析中的增强效应62
论用伪观X射线强度优化回归方程68
在岩石样品X射线荧光分析中使用“曲线拟合计算机程序”补偿元素间72
效应——地质样品中钒的测定72
地质原料X射线荧光分析的模型、方程和校正因子76
等效波长的概念、定义、特性和应用84
荧光X射线强度式中原级X射线的贡献率及其在定量分析中的应用99
电子计算机在X射线荧光分析中的应用107
使用配置计算机的自动X射线光谱仪定量分析选定的微量和痕量元素111
元素间效应严重存在时用X射线荧光法准确测定主组分123
岩石中痕量元素的X射线光谱分析仪器干扰的校正136
在荧光X射线光谱法中靶元素散射背景强度的校正方法147
对于邻苯二甲酸铷分光晶体变质的一些说明151
Ge(111)分光晶体的特性153
锑化铟X射线单色器156
由AgKa康普顿散射辐射强度的测量来确定X射线质量吸收系数160
岩石样品痕量元素分析中用AgKa康普顿散射辐射校正基体效应166
螯合离子交换树脂和X光荧光174
树脂填充纸——对于取样和标准化的一种万能介质179
X光谱分析现状(述评)186
工业X射线光谱分析的自洽校正方法197
多组份样品中荧光强度与分析元素浓度关系的研究211
用于X射线发射定量分析的一种多用途薄膜方法219
某些标准岩石样品中Rb/Sr,87Sr/86Sr比值的测定和X射线荧光光谱法在Rb-Sr地球化学中的应用225
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- X射线光谱分析导论
- 1981 北京:地质出版社
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- X射线分析
- 1963.12 中国工业出版社
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- 岩石 矿物的X射线荧光光谱分析
- 1980年10月第1版 地质出版社
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- X—射线光谱分析
- 1973年09月第1版 冶金工业出版社
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- 用X射线荧光法分析污染物质译文集
- 新疆环境保护科学研究所
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- X射线定向仪的应用技术
- 1990 北京:科学出版社
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- 时间分辨荧光分析技术与应用
- 1996 北京:科学出版社
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- 同位素源X射线荧光分析仪
- 1977 北京:原子能出版社
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- 放射性同位素X射线荧光分析
- 1981 北京:原子能出版社
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- X射线光谱分析
- 1982 北京:科学出版社
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- X射线光谱分析的原理和应用
- 1983 北京:国防工业出版社
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- 荧光和免疫荧光染色技术及应用
- 1983 北京:人民卫生出版社
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- X射线衍射分析
- 1989 上海:上海交通大学出版社
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