《表1 朗格化学手册第15版中引用的常见离子半径》

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《La掺杂BiFeO_3薄膜铁电及光学性能研究》

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沉积在Pt/Ti/Si O2/Si衬底上的BLFO薄膜的XRD图谱如图1（a）所示，纵坐标均取10为底的对数，其中Pt（111）和Si（220）为Pt/Ti/SiO2/Si衬底的相。可以看出，BLFO薄膜的XRD谱为纯钙钛矿相，且所有薄膜都呈（111）方向的菱形结构，没有发现任何其他中间相（如Bi2Fe4O9[18]）。由于La3+离子半径与Bi3+的离子半径相似（如表1[19]所示），且就其结构来说，它们最外层的核外结构具有很高的相似性[20]，可见La掺杂对峰位的影响不大，说明钙钛矿晶体的晶格常数基本不变。即便如此，如图所示，峰完全重叠，强度大致相同，峰也完全重叠，而随着掺杂浓度增大强度有逐渐增加趋势，如图1（b）所示。La3+的掺入补偿了Bi3+的挥发，而不同离子半径的掺杂会引起不同程度的晶格畸变，甚至改变它们的共形性[21]。另外所有元素都显示出对（111）-Pt/Ti/Si O2/Si基板的首选取向。