《表6 试验样品环境试验(一)》
将上述制备的工艺样品按照表6、表7方案进行环境试验,每组试验后测试粘接电容端头接触电阻并记录保存,并在超景深显微镜下观察粘接形貌拍照保存。所有试验完成后进行芯片剪切强度试验,对比不同导电胶粘接质量。
图表编号 | XD0086374900 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 刘颖潇、林政、张天会 |
绘制单位 | 深圳市振华微电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
将上述制备的工艺样品按照表6、表7方案进行环境试验,每组试验后测试粘接电容端头接触电阻并记录保存,并在超景深显微镜下观察粘接形貌拍照保存。所有试验完成后进行芯片剪切强度试验,对比不同导电胶粘接质量。
图表编号 | XD0086374900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 刘颖潇、林政、张天会 |
绘制单位 | 深圳市振华微电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |