《表3 使用第1款软件产品bug数据集时IDDD与G-O、P-Z的比较结果》

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《考虑不完美排错和检测率下降变化的软件可靠性模型》

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文献[11-12]中，Zhang和Wood认为P-Z模型和G-O模型在同其他模型比较时具有最好的预测性能，因此，本文选取这两个模型与IDDD模型进行比较。由于要使用AIC指标，参数估计采用极大似然估计法。在4个软件产品bug数据集上的比较结果见表3～6，其中G-O和P-Z模型的实验结果来自文献[11]，验证了结果的正确性。