《表9 改善后L0漏光不良率》

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《基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究》

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分别测量漏光程度大于Level 2的改善前的面板翘曲和漏光程度大于Level1的改善后的面板翘曲，记录翘曲为6.4～8.0μm L0时对应L0漏光程度，各收集30片。通过计算L0水平漏光均值及标准差，正态模式下计算漏光程度大于Level 3的不良品比例。如表9所示，改善前均值为3.07，标准差0.74。在6.4～8.0μm L0漏光高发区间内，可推测Level大于3的不良率为53.6%；改善后均值为1.7，标准差0.59，推算不良率为1.5%。改善前L0漏光程度大于Level 3的不良率为6.2%（参考表2），以上可以进一步推算改善后L0漏光不良率0.2%，改善幅度达到预期。