《表2 老化模式和电阻之间的关系》

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《基于交流阻抗谱的锂离子电池老化模式量化方法》

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Carlos Pastor-Fernández等[14]指出，老化模式CL主要表现在电极端和电池粘合剂处以及集流体的老化，所以用欧姆电阻的变化可以反映CL导电率损失的程度.SEI层电阻直接反映锂离子电池中SEI层结构的变化，SEI层的变化与LLI老化模式密切相关.传荷电阻主要表征锂离子的活性程度，与LLI老化模式也有很大关联.瓦博格阻抗主要反映电池内部的扩散效应，这种扩散效应一般是由锂离子浓度分布差异导致的，而锂离子浓度差异主要是由电池活性材料结构变化导致的，所以瓦博格阻抗与LAM老化模式有较大关联.总结3种老化模式与4种电阻之间的关联如表2所示.