《表4 图5中平行条纹移动的距离D、外延层去除厚度H、三角形缺陷宽度W和底边长度L的对应关系表》
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《4H-SiC外延层中堆垛层错与衬底缺陷的关联性研究》
图5(a)~(i)中三角形缺陷底边的长度L、宽度W、每次去除外延层的厚度H和底边的移动距离D记录在表4中。去除外延层的厚度H和底边的移动距离D仍然满足公式(1)。此外在去除外延层的过程中同一三角形形貌保持不变,底边的长度L和宽度W满足如下关系是:
图表编号 | XD0077638400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.01 |
作者 | 郭钰、彭同华、刘春俊、杨占伟、蔡振立 |
绘制单位 | 北京天科合达半导体股份有限公司、新疆天富能源股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、新疆天富能源股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司 |
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