《表4 8 4 6.7 nm处的A/D转换值》

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《阵列光电传感器的非线性校正》

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改变曝光量有两种途径:（1）光强不变，只改变积分时间，直到饱和；（2）积分时间不变，固定在某个积分时间，不断改变光强，直到饱和。针对线阵传感器积分时间调节非常方便和微型光谱仪已自带分光系统的特性，采用后一种途径，用式（3）修正后的光谱仪再次测量TCD1304DG在846.7 nm的光谱响应，得到A/D转换值，实验结果见表4，对应的积分时间与A/D转换值关系参见图2。图2表现出A/D转换值与积分时间的线性关系。由此可见经过非线性校正，大大延拓了线阵传感器的动态范围。