《表2 TCD1304DG的A/D转换值》

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《阵列光电传感器的非线性校正》

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微型光谱仪使用的光电传感器不同，对应的光谱响应曲线也不同，显然光谱曲线的最高点波长位置也不一样。设定积分时间为500 ms，先后分别调整两个光谱仪的光谱响应曲线最高点位置接近饱和，接近A/D转换器的最大值。16位A/D转换器范围为0～65 535，12位A/D转换器范围为0～4 095，从接近饱和值的积分时间（500 ms）逐步减少，直到光谱仪的最小积分时间。BIM6601的最小积分时间是4 ms，BIM6602的最小积分时间是0.5 ms。微型光谱仪各点起始积分时间都是500 ms（实际上何时积分时间开始无关紧要），起始A/D转换值之间的误差小于0.5%左右，逐步减少积分时间。测量结果如表1与表2所示。波长807.5 nm为BIM6602（阵列传感器S11639）测量DH-2000-BAL光源光谱响应曲线的最高点位置；波长846.7nm为BIM6601（阵列传感器TCD1304DG）测量DH-2000-BAL光源光谱响应曲线的最高点位置。波长263.6 nm与波长907.8 nm是随意取的光谱点波长，分别代表远离起始光源光谱响应曲线的最高点波长位置与接近光谱响应曲线的最高点波长位置。分别作阵列传感器S11639的807.5 nm波长点A/D转换值与积分时间关系图（见图1 （a）） ；TCD1304DG的846.7 nm波长点A/D转换值与积分时间关系图（见图1 （b）） 。图1中，A/D转换值与积分时间的光谱响应在47×103与32×102以上已经表现出非线性。