《表1 能量分辨率与计数性能比较》
注:上述的峰面积为5.9 keV峰
采用美国Moxtek公司的XPIN-XT型Si-PIN探测器,测量55Fe,ADC采样频率为40 MHz,分别采用数字Sallen-Key与数字CR-RCm高斯成形处理后,得到的能谱如图8所示,对能量分辨率与计数率性能进行测试,得到表1所示的结果。
图表编号 | XD0064853000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.10 |
作者 | 李卓岱、张怀强、刘进洋、颜苗苗 |
绘制单位 | 东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心、东华理工大学核科学与工程学院、东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心、东华理工大学核科学与工程学院、东华理工大学核科学与工程学院、东华理工大学核科学与工程学院 |
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