《表2 0.511 MeVγ能量分辨率计算结果和两种探测系统的死时间》
依据图5测得的γ射线(0.511 MeV)能谱,分别计算了两种探测器的能量分辨率。表2为计算得到的能量分辨率、γ射线(0.511 MeV)光电峰半高宽和探测死时间,计算中能谱道宽通过测量22Na源释放β+湮没产生的0.511 MeVγ射线和137Cs源释放的0.662 MeVγ射线能谱标定,其中探测死时间是能谱测量时Ortec-Maestro软件显示的死时间数据。结果表明:掺钇BaF2探测器和BaF2探测器对0.511 MeVγ射线的能量分辨率分别为38.29%和19.14%;掺钇BaF2探测器系统的死时间显著降低。结合图3所示,由于掺钇BaF2晶体中的慢成分强度远低于BaF2晶体中的慢成分,因此掺钇BaF2晶体的总光产额明显降低。从式(5)可知,探测器的能量分辨率与闪烁体的总光产额成反比,从而导致掺钇BaF2探测器的能量分辨变差。但是,掺钇BaF2晶体中慢成分的减少可减缓能谱测量过程中的信号堆积现象。
图表编号 | XD00132950100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.15 |
作者 | 王红锋、刘福雁、王英杰、陈俊锋、况鹏、张鹏、于润升、曹兴忠、李玉晓、王宝义 |
绘制单位 | 郑州大学物理学院(微电子学院)、中国科学院高能物理研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院高能物理研究所、中国科学院高能物理研究所、郑州大学物理学院(微电子学院)、中国科学院高能物理研究所 |
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