《表1 两种方法检测净杂质浓度数据对比》
实际检测超高纯锗产品时应将两探针法与霍尔检测法结合起来,首先采用两探针方法获得整条锗棒的净杂质浓度分布曲线,准确找到符合要求的产品区间,再切片通过霍尔检测验证,最终检测数值以霍尔检测为准。采用该方法后可以减少切片、霍尔检测次数,一次切片即可找到符合要求的产品区间。
图表编号 | XD0063188800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.01 |
作者 | 赵青松、牛晓东、黄幸慰、朱刘 |
绘制单位 | 广东先导先进材料股份有限公司、清远先导材料有限公司、广东先导稀贵金属材料有限公司、广东先导稀材股份有限公司、先导薄膜材料(广东)有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |