《表1 InAs基探测器的基本材料和结构参数》
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《基于液相外延的InAs基红外探测器InAsSbP阻挡层的仿真》
所采用的器件结构如图1所示,其中λ为入射光波长,P为入射光功率。假定器件侧表面作了钝化处理,可将其作为绝缘表面,器件暗电流仅包括器件内部暗电流。吸收层组分选为InAs0.89Sb0.11(对应的室温截止波长约为4.6μm[5])。参照文献[5,13]设定器件结构的仿真参数,如表1所示。仿真中用到的InAs基材料的物理性能参数如载流子有效质量、迁移率等参照文献[14]。
图表编号 | XD0062552200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.10 |
作者 | 林虹宇、谢浩、王洋、陆宏波、孙艳、胡淑红、陈鑫、戴宁 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室 |
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