《表2 不同波长下同一溶液中SO42-的发射强度》
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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钴产品生产过程净化液中硫酸根》
根据仪器推荐，初选较灵敏的S 180.669nm、S181.975nm、S 182.037nm、S 182.563nm、S 189.965nm共5条分析线，并使用标准溶液系列（5.00g/L钴基体）进行扫描，观察钴基体对不同分析线的干扰情况。结果图1和表2所示。
| 图表编号 | XD0060542500 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.05.01 |
| 作者 | 徐艳燕、朱国忠、柴瑾瑜、闫克玉、庞燕、郝凤梅 |
| 绘制单位 | 国家镍钴新材料工程技术研究中心、甘肃精普检测科技有限公司、国家镍钴新材料工程技术研究中心、甘肃精普检测科技有限公司、金川集团股份有限公司、国家镍钴新材料工程技术研究中心、甘肃精普检测科技有限公司、国家镍钴新材料工程技术研究中心、甘肃精普检测科技有限公司、国家镍钴新材料工程技术研究中心、甘肃精普检测科技有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
