《表1 试验加压条件：微波组件在密封试验中失效分析及对策》

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《微波组件在密封试验中失效分析及对策》

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某型微波组件细检漏密封试验依据GJB 360B-2009[2]方法112条件C进行，采用的是程序Ⅲa固定法。固定法是根据不同器件的内腔体积，规定加压的条件和氦质谱仪检漏时的氦测量漏率的极限值。如果测量漏率大于规定的测量漏率极限值，则拒收。固定法细检漏条件和拒收条件如表1所示。