《表3 电容锡珠产生机理实验方案》
为进一步证实锡珠与物料的受潮相关,对受潮物料/库房原包装物料两种状态进行切片分析,并结合品牌/电容种类(高分子钽/铝电容)等因素进行切片分析。制作实验方案,见表3。
图表编号 | XD0057340600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.05.18 |
作者 | 王世堉、贾忠中、王玉 |
绘制单位 | 中兴通讯股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中兴通讯股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
为进一步证实锡珠与物料的受潮相关,对受潮物料/库房原包装物料两种状态进行切片分析,并结合品牌/电容种类(高分子钽/铝电容)等因素进行切片分析。制作实验方案,见表3。
图表编号 | XD0057340600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.18 |
作者 | 王世堉、贾忠中、王玉 |
绘制单位 | 中兴通讯股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中兴通讯股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |