《表2 雪崩击穿时的电流峰值》
对3种SiC MOSFET进行毁坏性的雪崩测试,在同样的L和UDD下,逐渐增大T值,测得各自的雪崩耐量。表2给出了各MOSFET在L=1mH,UDD=80V下,发生雪崩击穿的充电时间T、雪崩电流峰值Id及其标幺值Id/Irat.。
图表编号 | XD0055643700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.06.10 |
作者 | 王俊杰、郭清、盛况 |
绘制单位 | 浙江大学、浙江大学、浙江大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对3种SiC MOSFET进行毁坏性的雪崩测试,在同样的L和UDD下,逐渐增大T值,测得各自的雪崩耐量。表2给出了各MOSFET在L=1mH,UDD=80V下,发生雪崩击穿的充电时间T、雪崩电流峰值Id及其标幺值Id/Irat.。
图表编号 | XD0055643700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.10 |
作者 | 王俊杰、郭清、盛况 |
绘制单位 | 浙江大学、浙江大学、浙江大学 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |