《表2 660nm红色荧光粉温度测试》
具体的操作如下:用驱动电路对模块进行驱动,用分频设计确定好激励脉冲的频率和脉宽,使紫色LED发出脉冲光,对荧光材料进行激发,再由示波器测量光电探测器的输出的衰减电信号的曲线。对于上文中效果较好的荧光粉材料对与不同温度下的衰减曲线进行取点测试,固定的横坐标分别为5.0,7.5,10,12.5,15,22.4(ms),测量数据如表2、3、4所示,由于示波器测量的精度不高,无法满足实验的0.1%的要求,因此在多次测量后,选取660nm长衰减型荧光粉对不同温度下的测试数据进行曲线拟合,并通过取对数运算得到曲线的衰减系数,在MATLAB中对温度与衰减系数进行线性匹配。
图表编号 | XD0052862900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.25 |
作者 | 杨和平、朱杨凯、周正超、谢志迅、谢志行 |
绘制单位 | 南京大学、南京力通达电气技术有限公司、南京力通达电气技术有限公司、南京力通达电气技术有限公司、南京大学金陵学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |