《表4 660nm长衰减型荧光粉温度测试》

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《荧光衰减型光纤测温》

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经过多次示波器手动测量数据，对数据进行处理得到衰减的参数——对数斜率，根据已知原理，观察是否具有线性特征，用MATLAB进行处理数据，将拟合曲线与采样点在一张图中展现，如图6所示。观察曲线拟合的优劣，在通过两边同时取对数，使变成线性，再通过最小二乘法算法拟合出最佳线性，得到斜率，并通过图像来展示（图7），由于手动操作示波器的误差较大，以及采样的温度点太少，线性效果与预想相差较大，在通过基于STM32F407多次延时采样得到数值，再经过以上一系列操作后发现线性效果明显。另外，猜想是由于模块本身具有基态不稳定的噪声信号，需要对基态信号的一些数据进行滤除。