《表5 钼粉掺杂C/O的设计方案/wt》
根据2.1节的分析可知,钼圆表面的白点(缺陷)可能是由于显微组织中含有主要成分为碳氧的复杂化合物(偏聚杂质)引起的。为了进一步确认偏析元素和杂质的来源及形成原因,我们进行了方案如下表5的模拟实验。
图表编号 | XD005188600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.10.01 |
作者 | 张明明、张多、高澜漪、吕光哲、郭晓影 |
绘制单位 | 辽宁科技学院冶金工程学院、辽宁科技学院冶金工程学院、辽宁科技学院冶金工程学院、辽宁科技学院冶金工程学院、辽宁科技学院冶金工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |