《表2 各组试件表面粗糙度Ra值 (μm)》

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《三种抛光套装对氧化锆全瓷冠抛光效果比较研究》

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注:1) 与对照组比较，P<0.05；2) 与上釉组比较，P<0.05；3) 与Kerr组比较，P<0.05；4) 与EVE组比较，P<0.05

各组试件表面粗糙度Ra值总的比较，差异具有统计学意义（F=0.05，P<0.05）。SHOFU组、EVE组、Kerr组的Ra值依次增大，且组间比较差异有统计学意义（均P<0.05）；上釉组Ra值最小，与其他组Ra值相比差异有统计学意义（均P<0.05）；除Kerr组外，其余组Ra值均小于对照组，且差异有统计学意义（均P<0.05）。见表2。