《表4 湿法分析结果Tab.4 Results of wet analysis》
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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定工业硅中总硅、二氧化硅和其他杂质组分》
采用湿法分析测定了5个工业硅样品中各元素的含量，结果见表4。计算出各元素氧化物的质量，结果见表4。
| 图表编号 | XD0037372400 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.02.18 |
| 作者 | 徐建平、张兆雄 |
| 绘制单位 | 武汉科技大学省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室、武汉钢铁有限公司质检中心 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
