《表3 4组不同位点下粘接剂厚度比较及两两比较》

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《印模方式及预备体设计对全瓷高嵌体适合性的影响》

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P:单因素（ANOVA）分析结果；*:P<0.05；-:P>0.05

各组8个位点间的粘接剂厚度的差异均有统计学意义（P<0.05）；LSD两两比较显示多个位点间差异有统计学意义:A组3、5、6点适合性较差，1、4点适合性较好；B组3、6、7点适合性较差，1、8点适合性较好；C组2、5点适合性较差，3、4点适合性较好；D组5、7点适合性较差，1、3、8点适合性较好。4组不同位点下粘接剂厚度差异的ANOVA分析及LSD两两比较结果见表3，可见点1、2、8处，即修复体边缘处4组间差异无统计学意义；点3、4、5、6、7处，即修复体内部4组间间隙剂厚度的差异具有统计学意义（P<0.05）。