《表4 测试数据Table 4 Test data》

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《一种新的胚胎电子细胞阵列测试结构》

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由故障模拟可知，此时测试向量“1110111”可检测“D1_out->O/0”、“I1->D0_in/0”、“I1/0”、“D2_out->D2_in/0”、“I3->D2_in/1”、“I3->D1_in/1”、“I3->D0_in/1”和“I3/1”等8个故障。根据这些故障在阵列中的信号传输路径，确定扫描范围为H1~H3和V0~V4。依次进行扫描，扫描结果见图19。仿真中假设测试数据为串行输出，VH为水平和垂直方向输出控制信号，当VH为0时，选择移出水平方向信号，当VH为1时，选择移出垂直方向信号。H[2∶0]和V[2∶0]分别为水平和垂直方向的多路选择器控制信号。UMode和UShift为扫描单元控制信号，当UMode为1，UShift为1时，扫描单元实现数据捕获功能，当UMode为1，UShift为0时，扫描单元实现数据移位功能。SDI为测试数据输入，SDO为测试数据输出，usclk为扫描时钟。1 900~2 290 ns重新加载测试向量“1110111”。2320~2330 ns捕获测试数据。2330~3750ns由SDO端口依次移出扫描链H1~H3和V0~V4中的测试数据，按照移出顺序记录测试数据，得到测试数据如表4所示。