《表1 测试D矩阵优化前后测试结果比较》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《基于可测试性技术的测试矩阵优化研究》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

为了验证方法的可行性，通过对图4所示JTAG测试电路进行仿真测试，选用Xilinx Vivado套件作为综合仿真工具。对Dk矩阵和DFIN矩阵进行测试，为了减小测试的误差，分别对Dk矩阵和DFIN矩阵进行k（在本文中k=10）次测试。记录单次测试所用时间T，将测试平均使用时间MFDT，故障覆盖率FDR，测试向量数量N作为衡量指标。测试结果如表1所示。