《表2 采用1个约束控制点多次测量高程的合格率》

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《MRTK轨道测量技术与精度分析》


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MRTK测量是一种相对测量设备,还需其他参考数据,采用加入约束控制点的方式可提高测量精度。图4和表2是在原始测量数据中手工加入1个已知控制点再重新计算的结果。